鋁合金測厚儀鋁型材測厚儀概述：

CT－800 型渦流測厚儀（膜厚儀，涂層測厚儀，鍍層測厚儀）是一種小型便攜式儀器，用于測量有色金屬基體上的非導電涂層的厚度，如銅、鋁、鋅等基體上的油漆、塑 料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽極氧化膜厚度等。該儀器采用渦電流測量原理，符合標準ISO2360和國家標準GB4957。
      該儀器設計時曾參照國外的同類儀器，與國外儀器性能相同，功能相似。
      采用紅寶石耐磨觸點的恒壓導套式探頭，可在各種堅硬、粗糙表面上得到穩定的輸出。
該儀器具備以下幾種重要功能：
      1、 校準數據關機保留功能：即開機時不必重新校準，關機后，校準數據仍可保留。
      2、 數據統計功能：可輸出5種統計參數。
      3、 節電功能：停止測試3分種，儀器自動關機。
      4、 電池欠壓指示功能：電池電壓過低自動關機。
      5、 蜂鳴音提示功能：蜂鳴音提示有效測量、故障及誤操作。.

概技術參數：

1.測量范圍：0－200μm;
      2.測量精度：±3%±0.5μm F·S
      3.分辨率：1μm
      4.使用溫度：0－40℃
      5.顯示器：三位半LCD顯示器
      6.電源：9V層迭電池一節，型號6F22
      7.功率：50mW
      8.外型尺寸：80×150×35mm
      9.重量：40g

概鍵盤說明：

1.ON/OFF－開關鍵。接通儀器電源。
    2.RES－統計輸出鍵。按下該鍵五次，將順次得到一組測量統計結果，分別為平均值、zui大值、zui小值測    量次數和標準偏差。
    3.DEL－刪除鍵。可刪除zui后一次測量值。
    4.CAL/ENTER校準鍵。用于校準儀器。
    5.▽－顯示值下調鍵。在進行校準操作時，用來將顯示值調低。還可以與DEL鍵配合，撤銷蜂鳴音或恢復蜂鳴音。
    6.△－顯示值上調鍵。在進行校準操作時，用來將顯示值調高。

概測量操作：

1.按下ON/OFF鍵。接通儀器電源。儀器開始運行自檢程序。顯示器中所有字符同時出現并閃動一次，然后發出一蜂鳴聲，顯示出0。表示儀器運行正常，已進入測量狀態。對于已校準過或近期已校準過的儀器，此時可進行測量操作。對于*沒有校準過的儀器，可用標準片檢查一下儀器的精度，或者重新進行校準。
2.測量方法如下：將探頭平穩、垂直地落到清潔、干燥、平整的待測試樣上，儀器的鳴叫一聲，同時顯示出涂層厚度值。表明一次測量完成。抬起探頭，重新落下，便可進行下一次測量。這樣反復5－10次，就可完成一組測量。
    3.按下RES鍵5次，可依次得到一組統計數據：

MEAN－平均值
       MAX－zui大值
       MIN－zui小值
       N－測量次數
       S－標準偏差

以上英文符將依次出現在顯示器的右測。

在統計值顯示期間，可隨時進行下一組測量，新的測量將清除前一組測量的統計結果。

4.在測量過程中，如因探頭放置不穩，顯示出一個明顯錯誤的結果，可按下DEL鍵，刪除該值，以免影響測量統計結果的準確性。
    5.測量完畢，按ON/OFF鍵，關閉電源。為節電起見。該儀器設有自動關機功能，停止操作3分鐘，儀器自動關機。
    6.該儀器有電池欠壓指示功能。當電池電壓不足時，會顯示出“LOBAT”字符。此時，應在30分鐘內結束測量，更換電池。儀器背面，設有電池倉，打開倉蓋，更換電池即可。

五.校準操作

該儀器不必每次使用前都做校準。但是，當基體材料改變時及試樣形狀改變時，都要進行一次校準。校準時要使用沒有涂層的基試塊和已知精確厚度值的標準片，基體和標準生要求表面清潔、平整。

1、校準有以下三種方法：

（1）探頭遠離基體（>15mm），按下CAL鍵，顯示器出現提示“ZERO”、顯示值“0.0”。
    （2）在基體上測量5－10次，顯示零點測量結果的平均值。
    （3）連續按下兩次CAL鍵，儀器接受新的零點，退出校準狀態，顯示“0”，進入測量狀態。

2、多點校準（用基體和標準片校準）

（1）將探頭遠離基體，按CAL鍵，提示“ZERO”，顯示“0.0”。
    （2）在基體上測量5－10次，顯示零點測量結果的平昀值。
    （3）按CAL鍵，儀器自動校準零點。提示“STD1”，顯示“0.0”。
    （4）取*標準片，放在基體上，測量5－10次，顯示該標準片測量結果的平均值。
    （5）按△或▽鍵，使顯示值與標準片厚度值相等。
    （6）按CAL鍵，儀器存入該校準值后，提示“STD2”顯示“0.0”
    （7）重復（4）－（6）的操作，校準其它兩個標準片。爾后，儀器退出校準狀態，顯示“0”，進入測量狀態。

3、特性校準（用已知厚度的參考試樣和標準片校準）

（1）探頭遠離參考試樣，按下CAL鍵，提示“ZERO”，顯示“0.0”。
    （2）按下CAL鍵，提示“STD1”，顯示“0.0”。
    （3）在參考試樣上測量5－10次，顯示該試測量結果的平均值。
    （4）按△或▽鍵，使顯示值與參考試樣厚度值相同。
    （5）按CAL鍵，儀器存入該校準值后，提示“STD2”，顯示“0.0”。
    （6）取*標準片，放在參考試樣上，測量5－10次，顯示測量結果一平均值。
    （7）按△或▽鍵，使顯示值等于參考試樣厚度值與標準片厚度值之和。
    （8）按CAL鍵，儀器存入該校準值后，提示“STD3”顯示“0.0”。
    （9）取第二標準片，放在參考試樣上，測量5－10次，顯示出測量結果的平均值。
    （10）按△或▽健，使顯示值等于參考試樣厚度值與第二標準片厚值之和。
    （11）按CAL鍵，校準結束，顯示“0.0”儀器進入測量狀態。

注：

1.該儀器不必每次使用都進行校準。只是當發現儀器測量誤差比校大時，便可進行校準，根據情況可分別使用上述的三種方法校準儀器。
     2.校準片的選擇應使待測件的膜厚值被標準片的厚度值所包含。各步校準所用標準片厚度必須按從小到大順序選取。
     3.在校準過程中，可用DEL鍵刪除該次測量值。也可使用DEL鍵，依次刪除前幾次的測量量，直至回到本步驟的初始狀態。
     4.在多點校準和特性校準時，連續按下兩次CAL鍵，可提前結束校準，回到測量狀態。
     5.為盡量提高測量精度，在下述情況下應采用外形和材質與待測件相同的基體材料重新校準儀器。