美國(guó)博曼BA100膜厚測(cè)厚儀采用美國(guó)行業(yè)技術(shù),能夠測(cè)量包含原子序號(hào)17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層. 利用X射線熒光的非接觸式的無(wú)損測(cè)試技術(shù)*地應(yīng)用于微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存工業(yè)中的金屬薄膜測(cè)量。可以同時(shí)測(cè)量多至6層的金屬鍍層的厚度和成份,測(cè)量厚度可以至微米(um),微英寸(u”),它也能測(cè)量多至20個(gè)元素的塊狀合金成份,是您節(jié)約生產(chǎn)成本,贏得客戶信賴的*。