Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
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靈活的檢測(cè)器選項(xiàng),獲取清晰圖像
使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。
使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。
使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。
使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。
用戶友好,操作簡(jiǎn)單
SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件,用于多用戶環(huán)境,是一種簡(jiǎn)潔的用戶界面。
它同時(shí)為操作經(jīng)驗(yàn)豐富的專家用戶和初級(jí)用戶提供了簡(jiǎn)便的操作。
基于實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。
但是,非專業(yè)用戶(例如學(xué)生,接受培訓(xùn)不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù),因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi),其用戶界面選項(xiàng)可滿足操作經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。
特點(diǎn):
用于清晰成像的靈活探測(cè)
利用*探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測(cè)器,獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。
自動(dòng)化加速工作流程
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
接下來對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。后使用工作流程的后一步,將結(jié)果可視化。