EMG 數(shù)字式控制器 ICON SE+VS/AE1054原裝
飛針測(cè)試儀不依賴(lài)于安裝在夾具或支架上的插腳圖案。基于這種系統(tǒng)，兩個(gè)或更多的探針安裝在x-y 平面上可自由移動(dòng)的微小磁頭上，測(cè)試點(diǎn)由CADI Gerber 數(shù)據(jù)直接控制。雙探針能在彼此相距4mil 的范圍內(nèi)移動(dòng)。探針能夠獨(dú)立地移動(dòng)，并且沒(méi)有真正的限定它們彼此靠近的程度。帶有兩個(gè)可來(lái)回移動(dòng)的臂狀物的測(cè)試儀是以電容的測(cè)量為基礎(chǔ)的。將電路板緊壓著放在一塊金屬板上的絕緣層上，作為電容器的另一個(gè)金屬板。假如在線(xiàn)路之間有一條短路，電容將比在一個(gè)確定的點(diǎn)上大。如果有-條斷路，電容將變小。
吳：18 04 623 3053
EMG 數(shù)字式控制器 ICON SE+VS/AE1054原裝
EMG電動(dòng)缸EMG伺服閥
EMG光電式測(cè)量傳感器 EVM2-CP/1850 71/L/R
EMG高頻光源發(fā)射器 LLS875/01
EMG數(shù)字式控制器 ICON SE+VS/AE1054
EMG適配器 EVB03.01
EMG對(duì)中光源發(fā)射器LID2-800.2C
EMG KLW300-012
EMG CPC LS14.02
EMG KLW 360.012
EMG EPC EVM2-CP/1300.71/L/R
EMG EPC CCDPro 5000
EMG CPC LS13.01
測(cè)試速度是選擇測(cè)試儀的一個(gè)重要標(biāo)準(zhǔn)。針床測(cè)試儀能夠一次精確地測(cè)試數(shù)千個(gè)測(cè)試點(diǎn)，而飛針測(cè)試儀一次僅僅能測(cè)試兩個(gè)或四個(gè)測(cè)試點(diǎn)。另外，針床測(cè)試儀進(jìn)行單面測(cè)試時(shí)，可能僅僅花費(fèi)20 - 305 ，這要根據(jù)板子的復(fù)雜性而定，而飛針測(cè)試儀則需要Ih 或更多的時(shí)間完成同樣的評(píng)估。Shipley （1991） 解釋說(shuō)，即使高產(chǎn)量印制電路板的生產(chǎn)商認(rèn)為移動(dòng)的飛針測(cè)試技術(shù)慢，但是這種方法對(duì)于較低產(chǎn)量的復(fù)雜電路板的生產(chǎn)商來(lái)說(shuō)還是不錯(cuò)的選擇。
EMG電動(dòng)缸LLS 675/02
EMG伺服閥SV1-10/32/315-6
EMG伺服閥/SV1-10/16/315/6
EMG伺服閥/SV1-10/8/315/6
EMG伺服閥/SV1-10/48/315/6
EMG伺服閥/SV1-10/8/120/6
EMG伺服閥/SV1-10/16/120/6
EMG伺服閥SV1-10/8/315/6
EMG伺服閥SV1-10/16/120/6
EMG伺服閥SV1-10/48/315-6
EMG伺服閥SV1-10/16/315-6
EMG傳感器KLW 300.012
EMG傳感器KLW 150.012
EMG傳感器KLW 225.012
EMG傳感器KLW 360.012
EMG傳感器KLW150.012
EMG傳感器KLW225.012
EMG傳感器KLW600
SV2-16/125/315/1/1/01伺服閥EMG
HFE400/10H濾芯EMG
KLM300/012位移傳感器EMG
LLS675/02 LICHTBAND對(duì)中整流器EMG
LIC1075/11光發(fā)射器EMG
EVK2.12電路處理板EMG
BK11.02電源EMG
MCU16.1處理器EMG
VKI3-11-200/1600/750/M/E/W/A/EMG
LID2-800.2C 對(duì)中光源發(fā)射器EMG
LID2-800.2C 對(duì)中光源發(fā)射器EMG
DMC2000-B3-160-SMC002-DCS電動(dòng)執(zhí)行器EMG
KLW300.012位移傳感器EMG
LIC2.01.1電路板EMG
EMG推動(dòng)桿EB1250-60IIW5T
EMG推動(dòng)桿EB800-60II
EMG推動(dòng)桿EB220-50/2IIW5T
EMG推動(dòng)桿EB300-50IIW5T
EMG發(fā)射光源L1C770/01-24VDC/3.0A
EMG制動(dòng)器ED121/6 2LL5 551-1
EMG光電探頭EVK2-CP/800.71L/R
對(duì)于裸板測(cè)試來(lái)說(shuō)，有專(zhuān)用的測(cè)試儀器（Lea,1990）。一種成本更為優(yōu)化的方法是使用一個(gè)通用的儀器，盡管這類(lèi)儀器最初比專(zhuān)用的儀器更昂貴，但它最初的高費(fèi)用將被個(gè)別配置成本的減少抵消。對(duì)于通用的柵格，帶引腳元器件的板子和表面貼裝設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)柵格是2.5mm。此時(shí)測(cè)試焊盤(pán)應(yīng)該大于或等于1.3mm。對(duì)于Imm 的柵格，測(cè)試焊盤(pán)設(shè)計(jì)得要大于0.7mm。假如柵格較小，則測(cè)試針小而脆，并且容易損壞。因此，zh選用大于2.5mm 的柵格。Crum （1994b) 闡明，將通用測(cè)試儀（標(biāo)準(zhǔn)的柵格測(cè)試儀）和飛針測(cè)試儀聯(lián)合使用，可使高密度電路板的檢測(cè)即精確又經(jīng)濟(jì)。他建議的另外一種方法是使用導(dǎo)電橡膠測(cè)試儀，這種技術(shù)可以用來(lái)檢測(cè)偏離柵格的點(diǎn)。然而，采用熱風(fēng)整平處理的焊盤(pán)高度不同，將有礙測(cè)試點(diǎn)的連接。
