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HemiView葉面圖像分析系統

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  • 公司名稱南京銘奧儀器設備有限公司
  • 品       牌
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  • 所  在  地
  • 廠商性質
  • 更新時間2022/6/16 12:36:30
  • 訪問次數180
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實驗室儀器,分析儀器
產品簡介:HemiView葉面圖像分析系統通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的,例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數據的相關信息,能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。
HemiView葉面圖像分析系統 產品信息
詳細資料

HemiView葉面圖像分析系統功能和組成

葉面積測量,自動辨別葉片損傷或病變面積,種子和根尖記數,圖形轉換、儲存和編輯。

使用照相分析,樣品圖像通過CCD 攝像機成像,然后由圖像截獲卡送到計算機中,圖像分析軟件對樣品圖像進行分析處理。


組成:
圖像截獲卡:PCI 接口,用來俘獲影像數據供計算機處理;
CCD 攝像機:對樣品進行攝影成像;
圖像分析軟件:對樣品的圖像進行分析處理,P133 以上,英文WIN3.1、WIN95,98 系統;

HemiView植物圖像分析系統特點:

·交互式圖示定位工具:精準記錄的圖像半球縱坐標系統。補償磁場偏差;

·支持圖像分類:強度區分界限和干擾像素。圖像按照實時更新分類;

·圖像可多重和拆分查看:分類和色彩/灰色等比率查看,或將整幅圖像拆分開瀏覽;

·圖像底片:圖像可轉換為底片模式進行查看和分析;

·可給不同的天空區域定義號碼:天頂角和方位角定義范圍;

·單個樹的葉面積:直接可通過HemiView輸出單個樹的LAI

·分析局部圖像:可以將圖像中不需要參與分析的部分排除;

·地點,鏡頭和太陽模型的參數:用戶可設定地點,鏡頭和太陽模式應用到任何一個圖像中,方便從列表中選擇;

·定義鏡頭的特點:鏡頭方程是當用戶使用了當前鏡頭和老款類型提供的ΔT

·輸出:分析結果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式;

·自定義輸出參數:用戶可根據不同的圖像定義不同的輸出參數。

 

 

HemiView葉面圖像分析系統技術指標

1、可測量物體的尺寸:平板掃描:400×370 mm;傳送掃描:250×290 mm;
2、彩色CCD 攝像頭,681×582 pixels;
3、測量面積精度:≤4%;
4、圖象采集卡取樣頻率:實時取樣,1/ 25 秒(50Hz);
5、圖象分析軟件分辨率:512×512 pixels,24 bit;
6、傳送裝置速率:60/100/140/190 mm/s;
7、傳送裝置樣品寬度為250mm,厚度為5mm;
8、帶有使卷曲葉片平展的聚丙烯片;
9、攝像機鏡頭支架高度:1150 mm;

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