HemiView葉面圖像分析系統功能和組成
葉面積測量,自動辨別葉片損傷或病變面積,種子和根尖記數,圖形轉換、儲存和編輯。
使用照相分析,樣品圖像通過CCD 攝像機成像,然后由圖像截獲卡送到計算機中,圖像分析軟件對樣品圖像進行分析處理。
組成:
圖像截獲卡:PCI 接口,用來俘獲影像數據供計算機處理;
CCD 攝像機:對樣品進行攝影成像;
圖像分析軟件:對樣品的圖像進行分析處理,P133 以上,英文WIN3.1、WIN95,98 系統;
HemiView植物圖像分析系統特點:
·交互式圖示定位工具:精準記錄的圖像半球縱坐標系統。補償磁場偏差;
·支持圖像分類:強度區分界限和干擾像素。圖像按照實時更新分類;
·圖像可多重和拆分查看:分類和色彩/灰色等比率查看,或將整幅圖像拆分開瀏覽;
·圖像底片:圖像可轉換為底片模式進行查看和分析;
·可給不同的天空區域定義號碼:天頂角和方位角定義范圍;
·單個樹的葉面積:直接可通過HemiView輸出單個樹的LAI;
·分析局部圖像:可以將圖像中不需要參與分析的部分排除;
·地點,鏡頭和太陽模型的參數:用戶可設定地點,鏡頭和太陽模式應用到任何一個圖像中,方便從列表中選擇;
·定義鏡頭的特點:鏡頭方程是當用戶使用了當前鏡頭和老款類型提供的ΔT;
·輸出:分析結果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式;
·自定義輸出參數:用戶可根據不同的圖像定義不同的輸出參數。
HemiView葉面圖像分析系統技術指標
1、可測量物體的尺寸:平板掃描:400×370 mm;傳送掃描:250×290 mm;
2、彩色CCD 攝像頭,681×582 pixels;
3、測量面積精度:≤4%;
4、圖象采集卡取樣頻率:實時取樣,1/ 25 秒(50Hz);
5、圖象分析軟件分辨率:512×512 pixels,24 bit;
6、傳送裝置速率:60/100/140/190 mm/s;
7、傳送裝置樣品寬度為250mm,厚度為5mm;
8、帶有使卷曲葉片平展的聚丙烯片;
9、攝像機鏡頭支架高度:1150 mm;