半導體推力測試儀是微電子和電子制造領域的重要儀器設備，它在測試精度、重復性、可靠性、操控性和外觀設計等方面，均達到高的水平。主要是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態測試儀器。芯片封裝測試設備多功能推拉力測試機
該設備廣泛應用于現代中、大功率變換器中的主流半導體開關器件，其動態特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關元件的動態性能具有重要的實際意義。用于測試小型衛星的推力系統。它可以測量有效推力、推力穩定性和推力變化率等關鍵參數。芯片封裝測試設備多功能推拉力測試機
芯片推拉力測試機具有智能工位自動更換系統，減少手工更換模塊的繁瑣性，同時更好提升了測試的效率及便捷性。能對芯片、半導體、金線、金球、焊線、鋁線、導線、電線、銅線以及其他線束等進行各種推拉力測試，廣泛應用于器械加工、航天航空、電子元件、電器封裝、研究所、實驗室等領域。
LB-8600多功能推拉力測試機廣泛用于LED封裝測試，IC半導體封裝測試、TO封裝測試，IGBT功率模塊封裝測試，光電子元器件封裝測試，汽車領域，航天航空領域，產品測試，研究機構的測試及各類院校的測試研究等應用。
設備功能介紹：
1.設備整體結構采用五軸定位控制系統，X 軸和 Y 軸行程 100mm，Z 軸行程 100mm，結合人體學的設計，保護措施，左右霍爾搖桿控制 XYZ 平臺的自由移動，讓操作更加簡單、方便并更加人性化。
2.可達 200KG 的堅固機身設計、Y 軸測試力值 100KG，Z 軸測試力值 20KG。
3.智能工位自動更換系統，減少手工更換模塊的繁瑣性，同時更好提升了測試的效率及便捷性。
4.高精密的動態傳感結合的力學算法，使各傳感器適應不同環境的精密測試并確保測試精度的準確性。
5.LED 智能燈光控制系統，當設備空閑狀況下，照明燈光自動熄滅，人員操作時，LED 照明燈開啟 。
設備軟件：
1.中英文軟件界面，三級操作權限，各級操作權限可自由設定。
2.力值單位 Kg、g、N 可根據測試需要進行選擇。
3.軟件可實時輸出測試結果的直方圖、力值曲線，測試數據實時保存與導出功能，測試數據并可實時連接 MES
系統。
4.軟件可設置標準值并直接輸出測試結果并自動對測試結果進行判定。
5.SPC 數據導出自帶當前導出數據值、最小值、平均值及 CPK 計算。傳感器精度: 傳感器精度 0.003%;綜合測試精度 0.25%。
測試精度: 測試傳感器量程自動切換。
多點位線性精度校正，并用標準砝碼進行重復性測試，保證傳感器測試數據準確性。
軟件參數設置: 根據各級權限可對合格力值、剪切高度、測試速度等參數進行調節。
測試平臺: 真空 360 度自由旋轉測試平臺，適應于各種材料測試需求，只需要更換相應的治具或壓板，即可輕松實現多種材料的測試需求。
測試參數:
設備型號: LB-8600
外形尺寸: 660mm*610mm*800mm(含左右操作手柄）
設備重量: 約 95KG
電源供應: 110V/220V@3.0A 50/60Hz
氣壓供應: 4.5-6Bar
控制電腦: 聯想/惠普原裝 PC
電腦系統: Windows7/Windows10 正版系統
顯微鏡: 標配高清連續變倍顯微鏡（可選配三目顯微鏡+高清 CCD 相機）
傳感器更換方式: 自動更換（在軟件選擇測試項目后，相應傳感器自動至測試工位）
平臺治具: 360 度旋轉，平臺可共用各種測試治具
XY 軸絲桿有效行程: 100mm*100mm 配真空平臺可拓展至 200mm*200mm，測試力 100KG
XY 軸移動速度: 采用霍爾搖桿對 XY 軸自由控制，移動速度為 6mm/S
XY 軸絲桿精度: 重復精度±5um 分辯率≤0.125 ；2mm 以內精度±2um
Z 軸絲桿有效行程: 100mm 分辯率≤0.125um，測試力 20KG
Z 軸移動速度: 采用霍爾搖桿對 Z 軸自由控制，移動速度為 8mm/S
Z 軸絲桿精度: ±2um 剪切精度：2mm 以內精度±1um
傳感器精度: 傳感器精度±0.003%；綜合測試精度±0.25%
設備治具: 根據樣品或圖紙按產品設計治具（出廠標配一套）
設備校正: 設備出廠標配相應校正治具及砝碼一套
質量保證: 設備整機質保 2 年，軟件升級（人為損壞不含）
