美國(guó)博曼BOWMANX-RAY，主要基于鍍層厚測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法-FP計(jì)算法，強(qiáng)大的電腦功能來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的計(jì)算，在加強(qiáng)的軟體功能之下，簡(jiǎn)化了測(cè)量比較復(fù)雜鍍層的程式。