CMI243是一款專門為測量磁性金屬上的涂鍍層(如鋅、鎳等)厚度而設計的便攜式膜厚儀。*的渦電流測試方法使測量更精確。特殊的測量探頭幾乎測量鐵質底材上所有的金屬涂鍍層，配置的測量探頭對細小的零件也可以精確測量。它具有X射線熒光的測量精度，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。CMI243在設計上更加合理、可靠、實用。