EDK系列產(chǎn)品采用增強(qiáng)型TDLS技術(shù)，0,1nm的掃描波長(zhǎng)，避免目標(biāo)被測(cè)氣體吸收波長(zhǎng)的交叉干擾，也可稱(chēng)為“指紋光譜”，可實(shí)現(xiàn)高分辨率的近紅外吸收測(cè)量。電子鎖相技術(shù)實(shí)現(xiàn)從光電信息中提取并分離出被測(cè)氣體的吸收信息，此