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SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀 - 產(chǎn)品詳情
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀簡(jiǎn)介
在工業(yè)及科研領(lǐng)域,經(jīng)常需要對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性的元素分析,同時(shí)對(duì)分析面積及靈敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,貴金屬檢測(cè)等。 黃金珠寶、牙科合金材料及其他稀有金屬的分析要求高精度,非破壞性而且測(cè)量點(diǎn)小。
德國(guó)斯派克分析儀器公司推出的 SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀正是滿足了這一要求,可最迅速、準(zhǔn)確地提供分析數(shù)據(jù)。根據(jù)市場(chǎng)要求,德國(guó)斯派克分析儀器公司對(duì)儀器進(jìn)行了擴(kuò)展而優(yōu)化,使 SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀在分析性能和使用靈活性方面獨(dú)樹(shù)一幟。
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測(cè)系統(tǒng),集準(zhǔn)直、聚焦、樣品激發(fā)于一體,是功能強(qiáng)大的金屬分析儀,SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調(diào)節(jié)的樣品臺(tái)。通過(guò)20倍變焦攝像機(jī)可精確地確定測(cè)量位置。儀器配有計(jì)算機(jī)和專業(yè)化的軟件,使操作極為簡(jiǎn)便。測(cè)量點(diǎn)直徑為0.7mm,樣品的總測(cè)量時(shí)間不超過(guò)100秒。在測(cè)定稀有金屬合金中的金含量時(shí),樣品的測(cè)量精度為0.15%。 SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀也可滿足快速分析的需要,在2分鐘內(nèi)可完成從鋁到鈾的所有數(shù)十種元素的分析。
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀不僅僅適用于珠寶行業(yè)、貴金屬檢驗(yàn)機(jī)構(gòu),海關(guān)商檢、造幣工業(yè)等,還可完成其它分析任務(wù)如:非破壞性檢查,貴金屬分選,電子線路及電氣元件的分析等。
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀創(chuàng)新點(diǎn):
1、附帶FP實(shí)際金屬、貴金屬、RoHS分析、無(wú)鹵化塑膠回歸的檢測(cè)曲線,集多種應(yīng)用于一身。該曲線采用大量金屬及貴金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品繪制,代表性強(qiáng),實(shí)用性強(qiáng),準(zhǔn)確度高。分析數(shù)據(jù)可同時(shí)顯示K金值及含量。
2、采用高分辨,高計(jì)數(shù)率,電制冷的SDD檢測(cè)器,實(shí)際分辨率160eV,計(jì)數(shù)率高達(dá)250,000cps,非常適合高含量樣品的分析。該計(jì)數(shù)器具有性及維護(hù)簡(jiǎn)單,無(wú)需繁瑣而危險(xiǎn)的液氮添加過(guò)程。
3、激光配合CCD攝像機(jī)雙定位,樣品分析點(diǎn)可視,可調(diào)。定位精度高。分析點(diǎn)的照片可截屏,出具報(bào)告時(shí)可以粘貼在報(bào)告中。
4、分析速度快,可在180秒內(nèi)完成各類樣品的分析任務(wù)
5、可選配狹縫交換器,測(cè)試點(diǎn)的尺寸可調(diào),由0.2毫米至3.3毫米。可同時(shí)分析同一樣品的各個(gè)部分,一般分析點(diǎn)的尺寸為1毫米。
6、可選配XYZ微米級(jí)精度全自動(dòng)樣品臺(tái),完成點(diǎn),線,面掃描。一次測(cè)量過(guò)程可同時(shí)分別完成多個(gè)樣品的分析。
7、超大樣品室,可完成超大樣品的分析,樣品的尺寸可以達(dá)到300*200*150mm(長(zhǎng)*寬*高)。同時(shí)可完成超小樣品1mm樣品的分析
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù):
激發(fā)
- Mo 靶X光管
功率:30W,電壓:48kV
- 測(cè)量點(diǎn)尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
樣品室
- 可顯示樣品的攝像系統(tǒng)(可調(diào)焦)
- 手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺(tái),樣品定位簡(jiǎn)便
- 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)精確移動(dòng)的XYZ樣品臺(tái),
行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高),
樣品重量:3kg/6.6 lbs
檢測(cè)器
- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測(cè)器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα線,在測(cè)量計(jì)數(shù)率為
10,000脈沖計(jì)數(shù)時(shí), 能量分辨率:FWHM< 160 eV
- 微處理器控制的檢測(cè)器和讀出電路
- 脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250,000 cps
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀光譜儀數(shù)據(jù)
- 電壓:95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光譜儀能耗:200W
- 儀器尺寸 寬x 深 x 高,單位mm
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1"
- 底座尺寸寬x 深:500x550 mm/19.7x21.6 "
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據(jù)不同配置
分析
- 用于合金元素分析的基本參數(shù)程序FP +
- 塑料及復(fù)合材料的RoHS指令檢測(cè)
環(huán)境條件
周圍環(huán)境溫度:5-30°C (41-85°F)
在20-25°C (68-77°F)下,可達(dá)到標(biāo)定儀器性能
- 在 25°C (77°F)下相對(duì)濕度: 10-80 %,無(wú)冷凝,無(wú)蒸氣腐蝕,防塵
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀主要特點(diǎn):
SPECTRO MIDEX X射線熒光能譜儀是推出的第三代產(chǎn)品,不僅可對(duì)樣品的微小區(qū)域進(jìn)行快速無(wú)損的檢定,還可對(duì)超大樣品的表面(面積可達(dá)EC標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2倍, 233x160 mm)進(jìn)行樣品分析。
德國(guó) Spectro MIDEX 是目前世界上性能價(jià)格比,使用,運(yùn)行成本,儀器穩(wěn)定性XRF 儀器。德國(guó)Spectro MIDEX 有很多技術(shù)優(yōu)勢(shì),在此無(wú)法一一列舉,以下僅列一些主要特點(diǎn):
1、電制冷的 SDD 檢測(cè)器不需液氮制冷。
2、超大樣品內(nèi)倉(cāng)(475*460*280 mm)可以放超大或者超小的樣品,對(duì)樣品的形狀沒(méi)有任何要求。
3、采用上照式光管設(shè)計(jì)(X 光管的光束是從上往下照射樣品的),光斑電腦控制,通過(guò)攝像頭可在電腦上輕松去選定測(cè)試樣品上的某個(gè)點(diǎn)(這個(gè)優(yōu)點(diǎn)對(duì)于不規(guī)則樣品來(lái)講是優(yōu)勢(shì)的);同時(shí)上照式的光管可以避免在測(cè)液體樣品時(shí)發(fā)生泄漏而損壞X 光管的問(wèn)題。
4、攝像頭 20 倍變焦放大;激光束定位,彌補(bǔ)了攝像系統(tǒng)可能的位置偏差。
5、符合 ISO9001, CE… 德國(guó)X 射線安全使用標(biāo)準(zhǔn)
6、不僅可對(duì)樣品的微小區(qū)域所存在的元素進(jìn)行快速無(wú)損的分析鑒定,還可對(duì)超大樣品的表面(面積可達(dá)EC 標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2 倍,233*160mm),進(jìn)行元素分析。
7、SPECTRO MIDEX X 射線熒光能譜儀是為滿足多種分析任務(wù)而專門研制開(kāi)發(fā)的微區(qū)分析儀器,靈敏度高,無(wú)破壞性,適合多種行業(yè)及研究領(lǐng)域。
8、分辨率:160ev , 計(jì)數(shù)率:250000cps(目前高計(jì)數(shù)率)。
9、軟件驅(qū)動(dòng)的狹縫交換器,分析面積為 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由選擇,小焦點(diǎn)聚焦方式,能量無(wú)損失,定位更加精準(zhǔn),可以測(cè)試到細(xì)小的焊端,引腳和BGA 焊球。
10、儀器拓展性:用戶可自己建立曲線,建立測(cè)試方法,擴(kuò)展性較好,可以使儀器十年都保持,軟件升級(jí)。
11、快速測(cè)定:可設(shè)定精度,自動(dòng)控制測(cè)試時(shí)間測(cè)試,測(cè)試時(shí)間最短。
12、內(nèi)置近百種不同材質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
23、斯派克公司開(kāi)發(fā)的 TQ-RoHS 軟件,具有強(qiáng)大的分析功能,可以校正多元素重疊,扣除Sb,Sn 及Br,As 分別對(duì)Cd,Pb 測(cè)試的影響,采用康普頓散射內(nèi)標(biāo)法校正(補(bǔ)正)不同的材質(zhì)。