詳細介紹
{特性} ★查找失效電容、二權管、TTL或CMOS芯片,可控硅等。 ★采用離線測試,避免線路板帶電測試時將導致的進一步損壞。 ★雙輸入通道(AB交替方式),可使使用者對損壞板元斯灣件與同型號完好元件進行比較分析; ★對于元件,儀器可提供專門的低電流交變信號,能過觀察電壓、電流牲響應,即可診斷元件壞與否; ★可調測試參數能夠奪于元件的特征響應加以突出及衰減; ★ 不同參數范圍允許操作者選擇特殊的電壓、電阻及頻率組合,為各種特別元件的測試量身裁衣; ★通過改變量程參數,實現牲響應方位圖差異手的聚集分析,例如調節電壓量小于600MV,無源元件可在元連帶半導體影響的條件下測試其特征響應: {技術規格} 測試頻率:20Hz、50/60Hz、200Hz或2KHz 輸出波形:正弦波 通道:雙通道 輸出電壓:200MV、2V、5V、10V或15V 源 阻 抗:10,100,1K、10K或100歐姆 量程選擇:自動掃描或手動 交替頻率:0.5Hz~5Hz(可調) 過載保護:電子電流斷路器 DC 電源:0~±5VDC(zui大50mA) 輸入電壓:220VAC 顯 示:2.8英寸CRT | 產品圖片 |