半導體芯片HAST加速模擬老化測試箱

HAST測試機Burn-in Chamber老化測試試驗箱，是通過對樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實現對產品加速老化的一種試驗方法。

廣泛用于PCB、IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗，高加速老化HAST箱HAST測試機Burn-in Oven，用于評估產品密封性、吸濕性及老化性能。

半導體芯片HAST加速模擬老化測試箱

高加速老化HAST箱HAST測試機Burn-in Oven主要用于評估在濕度環境下產品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度，濕度，壓力，的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產品內部。

標準設計更安全：內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合guo家安全容器規范；

多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；

穩定性geng高：控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩定性；

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設定；

智能化高：支持電腦連接，利用usb數據、曲線導出保存。

半導體芯片HAST加速模擬老化測試箱

相對于傳統的高溫高濕測試，如85°C/85％RH，HAST測試機Burn-in Chamber老化測試試驗箱增加了容器內的壓力，使得可以實現超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評估的測試周期，節約時間成本。HAST測試機Burn-in Chamber老化測試試驗箱，HAST高加速老化測試已成為某些行業的標準，特別是在PCB、半導體、太陽能、顯示面板等產品中，作為標準高溫高濕測試（如85C/85%RH-1000小時）的快速有效替代方案。