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LB-8600多功能推拉力測(cè)試機(jī)廣泛用于LED封裝測(cè)試，IC半導(dǎo)體封裝測(cè)試、TO封裝測(cè)試，IGBT功率模塊封裝測(cè)試，光電子元器件封裝測(cè)試，汽車領(lǐng)域，航天航空領(lǐng)域...
一臺(tái)高精度的推拉力測(cè)試機(jī)，測(cè)試方式有破壞性、非破壞性，適用于 IC封裝、光通訊器件封裝、LED 封裝、CCM 器件封裝、智能卡器件封裝、COB/COG 綁定、S...
設(shè)備采用高速動(dòng)態(tài)傳感和高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，具有的超高分辨率(24 BitPlus),采用安全限位和限速技術(shù)及智能燈光控制，高清觀察顯微鏡，雙搖桿四向操作等確保了人...
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